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- Description:
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Cette application permet de calculer la capabilité d'un processus de fabrication (Cp, Cpk). Plusieurs autres indice permettent d'évaluer l'echantillon ( normalité,asymetrie etc)
- Envoyé le:
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08 Nov 2008
- Envoyé par:
-
()
- Date:
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21 Oct 2008
- Auteur:
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Brice RAFFRAY
- Taille:
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86.50 Kb
- Type:
-
xls
- Téléchargements:
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458
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